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光谱测金仪
发射光谱分析（AES）光谱测金仪：原子发射光谱法是测定高纯金属或半导体材料中痕量杂质的主要分析方法之一，常采用预富集与 AES 测定联用技术，可同时检测多元素，提高检测灵敏度。 原子吸收型光谱测金仪：运用火焰法 - 氢化法联用原子荧光光谱仪，可进行金、银、铜等 17 种元素的痕量分析。 X 荧光光谱型测金仪：由高能 X 射线激发原子电子层，使原子核外电子发生跃迁，释放二次 X 射线，探测系统测量其能量和数量，从而计算元素含量。
类别:
金属类试验机
光谱测金仪
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