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两槽式HAST高压加速老化箱
两槽式HAST高压加速老化箱英文名（2-Zone HAST CHAMBER）用于评估在湿度环境下产品或者材料的可靠性，是通过在高度受控的压力容器内设定和创建温度，湿度，压力，的各种条件来完成，用于评估产品密封性、吸湿性及老化性能。
类别:
PCT加速老化试验箱
关键词:
科讯精密仪器
产品介绍
产品规格 : 满足31~248L标准容积选型和非标定制
产品介绍：两槽式HAST高压加速老化箱英文名（2-Zone HAST CHAMBER）用于评估在湿度环境下产品或者材料的可靠性，是通过在高度受控的压力容器内设定和创建温度，湿度，压力，的各种条件来完成，用于评估产品密封性、吸湿性及老化性能。
产品别名：两槽式HAST老化试验系统，双层式HAST高压加速老化试验箱，上下层HAST高加速寿命试验箱，复式HAST，两槽式UHAST
科讯两槽式HAST高压加速老化箱：英文名（2-Zone HAST CHAMBER）用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验。
► 采用上下双槽式设计 ，节省实验室占地空间，1台机的价格=2台机的价值，降低设备使用成本。
► 单屏双控，减少复杂繁琐设定，满足不同试样同时测试，提高试验效率。
► 96路偏压端子设计，满足芯片偏压测试。
► 产品兼容HAST不饱和高压蒸汽的恒定湿热测试和PCT饱和高压蒸汽测试。
► 自动箱门设计，按钮控制箱门开合，自带压力保护。
应用领域：用于PCB、IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验
满足标准：AEC-Q100-REV-JAEC-Q101-REV-EJIS C0096-2GB/T2423.40-1997电工电子产品环境试验第2部分：试验方法Cx：不饱和高压蒸汽的恒定湿热IEC60068-2-66-1994环境试验.第2-66部分：试验方法.试验Cx：稳态湿热JESD22-A100循环的温度和湿度偏移寿命JESD22-A101稳态温度，湿度/偏压，寿命试验（温湿度偏压寿命）JESD22-A102高压蒸煮试验（加速抗湿性渗透）ESD22-A108温度、偏置电压和工作寿命JESD22-A110 HAST高加速温湿度应力试验JESD22-A118温湿度无偏压高加速应力实验UHAST（无偏置电压未饱和高压蒸汽）
*可定制任意参数规格和型号大小
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两槽式HAST高压加速老化箱 |
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型号Model |
KS-2HAST-31L-A/B |
KS-2HAST-69L-A/B |
KS-2HAST-154L-A/B |
KS-2HAST-248L-A/B |
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单个槽容积（L） |
31 L |
69 L |
154 L |
248 L |
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内箱尺寸 |
直径φ |
350 |
400 |
550 |
650 |
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深D |
450 |
550 |
650 |
750 |
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外箱尺寸 |
宽W |
700 |
700 |
850 |
950 |
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深D |
1000 |
1000 |
1150 |
1350 |
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高H |
1710 |
1710 |
1760 |
1860 |
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性能指标 |
温度范围 |
A： +100~+143℃； |
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湿度范围 |
60%~100%RH |
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压力范围 |
A：0.2~3kg/cm² (0.018~0.294Mpa)； |
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温度均匀度 |
≤±2℃ |
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温度波动度 |
≤±0.5℃ |
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湿度波动度 |
≤±2 % R.H |
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湿度偏差 |
≤±3 % R.H |
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温度偏差 |
≤±2℃ |
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压力偏差 |
≤±2Kpa |
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升温时间 |
常温～+ 143℃ 约45 min ；常温～+ 156℃ 约55 min |
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升压时间 |
常压～3kg/cm² 约35 min，外部气源加压：约5 min |
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功率 |
2.8KW |
3.2KW |
4KW |
5KW |
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箱体材质 |
内箱 |
SUS #316不锈钢 |
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外箱 |
冷轧钢板+双面静电喷塑工艺处理 |
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保温 |
超细玻璃棉 |
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噪音 |
≤60（dB） |
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控制器 |
7寸彩色触摸屏控制器（带压力温湿度，带RS-485或RS-232通讯，USB烤数据） |
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分辨率 |
温度：0.01℃；湿度：0.1%RH；压力：0.1 kg/cm²； |
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加压方式 |
1.锅炉蒸汽加压；2.外部气体加压 |
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BIAS偏压端子 |
（选配订购时需注明） |
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使用条件 |
环境温度：+5℃~+35℃;环境湿度：≤85%RH；环境大气压要求：86KPa～106KPa |
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电源 |
AC220V 50/60Hz |
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保护装置 |
1.超温保护，2.风机超载保护，3.箱门压力保护，4.缺水保护，5.溢水保护，6.加热器空焚保护， |
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型号说明 |
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